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            圓柱電極差分遷移納米粒度儀和矩形板電極新型

            圓柱電極差分遷移納米粒度儀和矩形板電極新型

            作者:admin   時間:2019-06-12
            公司新聞
            圓柱電極差分遷移納米粒度儀和矩形板電極新型差分遷移納米粒度儀,下面就有濟南耐克特儀器為您分享解答。


            本文利用現有的圓柱電極差分遷移納米顆粒尺寸分析儀(DMA)和新型矩形板電極差分遷移納米顆粒尺寸分析儀(DMA)對高氣溶膠速度下的納米顆粒進行了分類。兩種DMA均能以200slm的氣體流量將單分散納米顆粒(smps_g<1.1)輸送到500slm。在200 SLM的氣溶膠流速下,圓柱形DMA的最大可實現粒徑約為20納米,矩形DMA的最大可實現粒徑約為50納米。通過高通量DMA傳輸的單分散納米顆粒的數量濃度范圍為104cm-3至106cm-3,取決于平均尺寸和粒徑分散。版權所有2014美國氣溶膠研究協會。

             
            用納米顆粒分析儀(PSA)、掃描電子顯微鏡(SEM)和紫外可見分光光度計對產物進行了表征。XRD光譜證實了合成樣品的四方結構。利用德拜-謝瑞公式,從X射線譜展寬的角度,測定了合成納米顆粒的平均微晶尺寸。采用溶膠-凝膠法合成了未摻雜和摻雜銀的二氧化鈦納米顆粒(Ti1-xAgxO2,x=0.00-0.10)。X射線衍射(XRD)表明,隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃左右,微晶尺寸在8~33nm之間變化。與未摻雜的二氧化鈦相比,摻雜3-5%的Ag+而不是Ti 4+導致納米晶尺寸減小。掃描電鏡照片顯示了聚集顆粒的球形形態。掃描電鏡、壓敏吸附分析和X射線衍射分析表明,該粉末的粒徑為納米級。光學吸收測量表明,銀摻雜后,吸收帶邊緣出現紅移。用紫外-可見分光光度計測量未摻雜和摻銀二氧化鈦納米顆粒在500℃時的直接允許帶隙分別為3.00和2.80 eV。

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