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            濟南耐克特講解激光粒度分析儀的測試原理

            濟南耐克特講解激光粒度分析儀的測試原理

            作者:admin   時間:2019-05-31
            行業新聞

            當光束前進過程中遇到粒子時,會產生散射現象。散射光和光束的初始傳播方向形成一個θ角。散射角的大小與粒徑有關。粒子越大,散射光的θ角就越小。粒子越小,散射光的θ角就越大。通過測量不同角度散射光的強度,可以得到樣品的尺寸分布。

            激光粒度分析儀是粒度測量領域中應用最廣泛的粒度分析儀之一。具有動態范圍寬、測量速度快、操作方便等特點。特別適用于測量粒度分布較廣的粉末和液滴。激光粒度分析儀作為一種性能優良、應用領域廣泛的粒度分析儀,已廣泛應用于其他粉末加工和應用領域。

            隨著粉末技術的發展,對粒度分析儀性能的要求也在逐步提高,特別是對粒度分析儀測量范圍的要求越來越寬。測量下限為數百甚至數十納米,測量上限為1000甚至數千微米。這對新型激光粒度分析儀的設計提出了很大的挑戰。

            粒子越細,散射光的角度越小,小粒子的散射光在360度范圍內均勻分布。為了擴大儀器的下限。需要非常規的光學設計。粒子尺寸越小,散射光在360度空間分布的強度差越小。當顆粒尺寸達到一定極限時,強度差會很小,幾乎很難分辨。此時,達到激光粒度儀的下限。光學設計的障礙和散射光的特性決定了傳統激光粒度儀的下限一般在0.02微米左右。當粒徑較大時,也會遇到技術難題。大顆粒的散射角很小,不容易分辨和測量。為了有效地區分大顆粒的光強分布。它可以簡單地延長聚焦透鏡的焦距(例如500甚至超過1000毫米),但大焦距會導致激光粒度儀體積的大幅度增加,對小顆粒的大角度散射光的檢測非常不方便。同時,對透鏡加工精度的要求也會更高。這一技術難點使得傳統的激光粒度分析儀難以測量1200微米以上。

            上升激光粒度分析儀采用全范圍邁克氏散射理論,充分考慮了被測粒子的光學性質和分散介質的折射率,根據不同粒徑粒子在不同時間的散射光強變化,提取了粒子的粒徑分布數據。ngle。

            粒子測試數據計算一般分為無約束擬合反演和約束擬合反演。約束擬合反演假設粒子群在計算前符合一定的分布規律,然后根據該規律反演粒子的粒徑分布。這種計算相對簡單,但由于預假設與實際情況之間不可避免的偏差,約束擬合計算的試驗數據不能真實反映粒子群的實際粒徑分布。

            無約束擬合反演是在試驗前不作任何假設的情況下,直接、準確地利用光強計算顆粒尺寸分布。該計算的前提是合理的探測器設計和粒度分級,對設備本身提出了較高的要求。我公司生產的激光粒度分析儀采用了最佳的非均勻交叉扇形探測器陣列和合理的粒度分類,能夠準確測量粒度分布。
            濟南耐克特儀器專業生產銷售激光粒度儀、激光粒度分析儀、粒度儀以及納米粒度儀等精密儀器。

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